
Beschrijving:De Benchtop X-ray CT-scanner is een compact, hoog-precies niet-destructief inspectiesysteem ontworpen voor laboratoria, R&D-centra en industriële kwaliteitscontroleomgevingen. Met zijn ruimte-besparende footprint en microfocus-röntgen-technologie levert hij betrouwbare interne 3D-visualisatie zonder dat dit ten koste gaat van de resolutie of doorvoer.
Uitgerust met een microfocus-röntgenbron met hoge{0}}stabiliteit en een flatpaneldetector met hoge-resolutie, maakt het systeem gedetailleerde inspectie van micro-structuren, interne defecten en integriteit van de assemblage mogelijk. Het is bijzonder geschikt voor toepassingen die fijne defectdetectie en dimensionale analyse vereisen, terwijl het eenvoudig te installeren en te bedienen is in laboratoriumomgevingen
Toepassingsindustrieën
Laboratoria
Spuitgieten
Elektronica
geavanceerde materialen
Inspectiebeelden




Systeemparameters
Röntgenbuistype: kleine focus, afgedichte buis
Buisspanningsbereik: 40–120 kV
Buisstroombereik: 5 mA
Brandpuntsafstand: 400 µm
Pixelmatrix: 1536 × 1536
Pixelgrootte: 85 µm
Beeldgebied: 130 × 130 mm`
Voorbeeldformaat enkele scan: Ø85 × 85 mm
Maximaal monstergewicht: 10 kg
Maximale monstergrootte: Ø170 × 340 mm
Minimale detecteerbare defectgrootte: 50 µm
Ruimtelijke resolutie: 100 µm
Totaal gewicht: 350kg
Totale afmetingen: 780 × 660 × 530 mm
Exportverpakkingen




Veelgestelde vragen




Populaire tags: benchtop x-ray ct-scanner, China benchtop x-ray ct-scanner fabrikanten, leveranciers





